同位体顕微鏡システム – IMS-1270 / CAMECA
北海道大学 創成研究機構

CAMECA社の超高質量分解能SIMS（Secondary Ionization Mass Spectrometer:二次イオン質量分析計）IMS-1270の技術を発展させ、物質中の同位元素の３次元分布をイメージング可能とした装置です。濃度1ppbまでの同位元素に対し横方向300nm・深さ方向10nmの空間分解能があります。また、500倍の濃度差をもつ同位元素において相対誤差0.5%の分析精度で同位体比分析可能です。 もっと詳しく 更に詳しくキーワード SIMS 重水素 軽元素 安定同位体 安定同位体標識 SCAPS 同位体イメージング 投影型

¹⁸O同位体で標識したRNAが、培養した細胞内に取り込まれた様子を同位体比イメージングしました。無数の赤い点が標識したRNAです。
Hamasaki et al., Nucleic Acids Research (2013)

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次世代同位体顕微鏡システム – IMS-1280HR / CAMECA
北海道大学 創成研究機構

特に点分析において、超高感度質量分析が可能です。同位体顕微鏡システムよりも質量分解能が向上しています。 もっと詳しく 更に詳しくキーワード SIMS 重水素 軽元素 安定同位体 安定同位体標識 SCAPS 同位体イメージング 投影型

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MALDI-IT-TOF型顕微質量分析装置 – iMScopeβ機 / 島津製作所
浜松医科大学 国際マスイメージングセンター

JST先端計測プロジェクトの支援を受け、当研究室と島津製作所が中心となって開発した装置です。 5μm以下のレーザー径による高解像度での測定が可能です。メージング イメージング質量 質量イメージング 製品版iMScopeのウェブページへ

ヒト乳がん組織において、フォスファチジルコリン（PC）(32:1)がガン部（赤）に、PC(36:0)が非ガン部（黄）に豊富であることを見出しました。

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フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計 – Solarix XR / ブルカージャパン株式会社 ダルトニクス事業部
浜松医科大学 国際マスイメージングセンター

最高1000万FWHMの超分解能をもち、超高感度での解析を行うことができます。10μmの高い空間解像度でのイメージングも可能です。MSイメージング イメージング質量 質量イメージング 詳細

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脱離エレクトロスプレーイオン化（DESI）型質量分析イメージング装置 – Xevo® G2-XS Qtof / 日本ウォーターズ株式会社
浜松医科大学 国際マスイメージングセンター

マトリックス塗布などの前処理が不要で、ソフトなイオン化によるイメージングを行います。遊離脂肪酸の測定などが可能です。四重極―飛行時間質量分析計（QTOF）を用いているため、高分解能測定やMS/MS測定（プロダクトイオンスペクトル測定）による構造推定を行う事が出来ます。MSイメージング イメージング質量 質量イメージング DESI 詳細

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脱離エレクトロスプレーイオン化（DESI）型質量分析イメージング装置 – Xevo® TQ-XS / 日本ウォーターズ株式会社
浜松医科大学 国際マスイメージングセンター

DESI-Qtofと同じソフトイオン化によるイメージングが可能です。三連四重極質量分析計を用いているため、選択反応モニタリング（selected reaction monitoring, SRM）による高選択的且つ高感度でのイメージングを行う事が出来ます。SRMはMRMとも呼ばれ、LC/MSによる高感度定量分析に汎用されている測定方法です。MSイメージング イメージング質量 質量イメージング DESI 詳細

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3D-SIM超高解像度イメージングシステム – DeltaVision OMX / GE Healthcare
広島大学　自然科学研究支援開発センター

3D-SIM 技法を用いた超解像度イメージングシステムです。3D-SIMはレーザーを干渉させてできるモアレ縞という現象を用いて超解像を達成する蛍光顕微鏡で、従来の蛍光顕微鏡に比べ、x,y,z のすべての方向に解能が向上します。最高でXY軸方向分解能90 nm、Z軸方向220 nmの分解能を持ち、細胞内構造物や微細構造物を画像化し、より詳細な解析が可能。また、高速での画像取得が可能で、ライブイメージングへの適応が可能です。 もっと詳しく超高解像度イメージング 超高解像度光学イメージング 蛍光

超解像度イメージングシステムで3次元培養細胞（ラット初代肝細胞）を測定し、細胞集団を確認しました。（JSM-7800Fによる観察に続きます）

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サーマル電界放出形走査電子顕微鏡 – JSM-7800F / 日本電子
広島大学　自然科学研究支援開発センター

高性能電子光学系より真空中において、一点集束発生させた電子線を試料へ照射する事により、試料から二次電子や反射電子を放出させる装置です。二次電子は主に試料表面の凹凸による情報が得られ、反射電子は試料を構成する物質の原子番号に依存し、照射した部位から放出される平均元素番号が低い部位は暗く、高い部位は明るく観察できます。この反射電子からエネルギー分散型X線分光器（JED-2300）にて元素分析も解析可能です。また、本装置には、クライオトランスファーシステム(ALTO2500)が搭載され、含水試料や熱に弱い試料の観察も可能です。もっと詳しく電子イメージング 電子顕微イメージング 電顕 電子顕微鏡 SEM

ラット大脳皮質初代細胞のスフェロイド（細胞凝集体）を観察しました。これと3D-SIM超解像度イメージングシステムによる解析結果と合わせることにより、スフェロイドの実際の3次元構造を確認することが出来ました。

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共焦点レーザー走査型顕微鏡 – FV1000-D / オリンパス
広島大学　自然科学研究支援開発センター

共焦点レーザー走査型顕微鏡は、通常の蛍光顕微鏡に比べて高い分解能でサンプルを観察することができ、また深さ方向の連続断層画像の取得によりサンプルの3次元像を構築することも可能な顕微鏡です。
顕微鏡下での細胞採取（1細胞質量分析法の前処理）にも利用できます。もっと詳しく光学イメージング 共焦点 蛍光

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質量顕微鏡システム – iMScope / 島津製作所
広島大学　自然科学研究支援開発センター

スライドガラス上の試料切片について、MALDI法を用い、レーザー照射位置（測定位置）を変えながら微小領域（μmオーダー）のマススペクトルを連続測定することにより、その微小領域ごとに含まれる分子量3,000までの分子についての情報を得ることができます。
装置内に組み込まれた顕微鏡であらかじめ試料切片を撮影し、その画像に得られた各微小領域のマススペクトルを重ね合わせることで、試料切片における分子の分布を観察することができます。もっと詳しくMSイメージング イメージング質量 質量イメージング

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原子分解能・ホログラフィー電子顕微鏡(1.2 MV)
日立製作所 研究開発グループ基礎研究センタ

電子加速電圧：1.2MV
最高分解能：43pm
球面収差補正器装備
電子線ホログラフィ―機能
磁場フリー観察ステージ、
磁場印加機能（～500mT）
液体He冷却
詳細はこちら電磁場解析 ホログラフィー電子顕微鏡 超高感度 究極の超高分解能 3D ３D ３Ｄ 液体He冷却 触媒のオペランドホログラフィー計測 基礎物理理論の検証

※ 本装置は総合科学技術・イノベーション会議により制度設計された最先端研究開発支援プログラム（内閣府)により，日本学術振興会の助成を受けて開発されました．

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超高圧ホログラフィー電子顕微鏡 (1 MV)
日立製作所 研究開発グループ基礎研究センタ

電子加速電圧：1MV
最高分解能：120pm
電子線ホログラフィ―機能
磁場フリー観察ステージ
磁場印加機能（～500mT）
液体He冷却
電磁場解析 ホログラフィー電子顕微鏡 超高感度 究極の超高分解能 3D ３D ３Ｄ 液体He冷却 触媒のオペランドホログラフィー計測 基礎物理理論の検証詳細はこちら

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ホログラフィー電子顕微鏡(350 kV)
日立製作所 研究開発グループ基礎研究センタ

電子加速電圧：350kV
最高分解能：200pm
電子線ホログラフィ―機能
磁場フリー観察（＜～100mT）電磁場解析 ホログラフィー電子顕微鏡 超高感度 究極の超高分解能 3D ３D ３Ｄ 液体He冷却 触媒のオペランドホログラフィー計測 基礎物理理論の検証
詳細はこちら

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ホログラフィー電子顕微鏡（特殊品）- HF3300EH / 日立ハイテクノロジーズ
ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所

超高感度位相シフト電子線ホログラフィーを駆使した半導体デバイス，二次電池などの精密電位計測．
電子加速電圧：300kV
4個のパイプリズム装備
高分解能（～240pm）
試料の加熱及び冷却、電圧印加、磁場印加（～120mT）
磁場解析 ホログラフィー電子顕微鏡 冷却 触媒のオペランドホログラフィー計測 半導体デバイス 電池詳細はこちら

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ホログラフィー電子顕微鏡（300kV） / 日立ハイテクノロジーズ
九州大学 超顕微解析研究センター

(1)構造解析・組成分析と同期させた複合的な電磁場解析
(2)広範囲での加速電圧設定や、高速・高感度カメラの利用を通した、電子照射に弱い試料の解析
電子加速電圧：300kV, 200kV, 100kV
最高分解能：200pm

キーワード 電磁場解析 ホログラフィー電子顕微鏡 磁石 触媒
詳細はこちら

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走査透過電子顕微鏡（200 kV） ARM-200F / 日本電子
名古屋大学 未来材料・システム研究所付属超高圧電子顕微鏡施設

複合電子顕微分光によるサイト選択的ドーパント化学分析
物性空間マッピング
結晶格子欠陥の３D解析
電子加速電圧200kV
ダブル収差補正
バイプリズム
EDX
EELS分光器
反射電子検出器
複合電子顕微分光 サイト選択的ドーパント化学分析 物性空間マッピング 結晶格子欠陥の３D解析詳細はこちら

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分光走査透過電子顕微鏡（200 kV） JEM2100 / 日本電子
名古屋大学 未来材料・システム研究所付属超高圧電子顕微鏡施設

複合電子顕微分光によるサイト選択的ドーパント化学分析
物性空間マッピング
結晶格子欠陥の３D解析
電子加速電圧200kV
熱電子銃
EDX/WDX/EELS/CL分光器
反射電子検出器
キーワード 電磁場解析 ホログラフィー電子顕微鏡 材料分野 特殊ホルダ 動的磁場下でのローレンツ顕微鏡像その場観察詳細はこちら

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